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日本理学ZSX Primus IV上照射波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)

日本理学ZSX Primus IV波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)具有卓越的性能和剖析最庞大样品的灵活性,具有 30 微米 Be 管窗口,是业内最薄的标准管窗口,具有精彩的轻元素(低 Z)检测限。 优点

荟萃所有ZSX系列的优点:双真空系统,自动真空控制,Mapping/微区剖析,超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等。可灵活剖析庞大样品。

30μm超薄窗光管,包管轻元素剖析灵敏度。

最先进的Mapping包可以检测同质性和夹杂物。

较小的占地面积。

30 μm超薄窗Mapping。

He 密封:样品室一直在真空情况中。

数字多通道剖析仪 (D-MCA) 系统有助于实现高计数率的高速数字处理,从而提高剖析精度及效率。


宁静性

接纳上照射设计,再不必担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。


■ 应用领域

液体、合金和电镀金属的元素剖析。


■ 技术参数

广泛的元素剖析规模Be-U。

占地面积小,节省实验室空间。

500μm微观剖析。

下照射式设计适合液体和松散粉末要样品。

30μmX射线管提供卓越的超轻元素性能。

用于元素漫衍的Mapping剖析。

氦气密封是指样品室始终在真空的条件下。

 


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